Метрологические возможности

Метрологические возможности

Paralight Optics использует различные метрологические методы и предлагает уровни контроля, адаптированные к потребностям вашего применения.Строгий контроль качества позволяет нам поддерживать высокие стандарты качества.Для некоторых наших клиентов 100% контроль поверхности и точечный контроль мощности по краю по запросу гарантируют, что оптические компоненты и узлы соответствуют заданному качеству поверхности.Для большинства клиентов случайная выборка для протоколов испытаний выполняется с использованием международных стандартов проверки, таких как NF06-022 или MIL-STD-105E.Кроме того, метрология в процессе производства является важнейшим компонентом нашей строгой глобальной программы качества ISO 9001. Эта метрология позволяет нам обеспечить контролируемый и предсказуемый процесс производства.Мы используем широкий спектр метрологического оборудования, в том числе:

Измерительное оборудование

Зиго-Интерферометр

Интерферометр Zygo для измерения точности поверхности

Метрология-Возможности-1

Профилометр Zygo для измерения широкого спектра поверхностей

Метрология-Возможности-2

Система измерения Xonox для ошибки центрирования

Метрология-Возможности-3

Триоптика OpticSpheric для измерения фокусного расстояния

Метрология-Возможности-4

Триоптика Супер Сферотроник для измерения радиуса

Спектрофотометр Перкина-Элмера, инфракрасный спектрометр с преобразованием Фурье Брукера

Спектрофотометр Perkin Elmer для проверки оптических свойств