P-qütbləşmədə əks itkiləri olmayan Brewster pəncərələri
Brewster pəncərələri adətən lazer boşluqlarında polarizator kimi istifadə olunur.Brewster bucağında (633 nm-də 55° 32') yerləşdirildikdə işığın P-qütbləşmiş hissəsi itkisiz pəncərədən keçəcək, S-qütblü hissəsinin bir hissəsi isə Brewster pəncərəsindən əks olunacaq.Lazer boşluğunda istifadə edildikdə, Brewster pəncərəsi mahiyyətcə polarizator rolunu oynayır.
Brewster bucağı ilə verilir
tan(θB) = nt/ni
θBBrewster bucağıdır
nihava üçün 1,0003 olan hadisə mühitinin sınma indeksidir
nt633 nm-də əridilmiş silisium üçün 1,45701 olan ötürücü mühitin sınma indeksidir.
Paralight Optics təklif edir ki, Brewster pəncərələri N-BK7 (A dərəcəli) və ya UV əridilmiş silisiumdan hazırlanır, bu da lazerin yaratdığı flüoresans (193 nm-də ölçüldüyü kimi) nümayiş etdirmir və onu UV-dən yaxın IR-yə qədər tətbiqlər üçün ideal seçim edir. .Lütfən, istinadlarınız üçün 633 nm-də UV əridilmiş silisium vasitəsilə həm S-, həm də P-qütbləşməni əks etdirən aşağıdakı Qrafikə baxın.
Xüsusiyyətləri:
Material:
N-BK7 və ya UV əridilmiş silisium substratı
Lazer Zərərinin Miqdarı Testi:
Yüksək zərər həddi (örtülməmiş)
Optik Performanslar:
P-qütbləşmə üçün sıfır əksetmə itkisi, S-qütbləşmə üçün 20% əks
Tətbiqlər:
Lazer boşluqları üçün idealdır
Ümumi Spesifikasiyalar:
Üçün İstinad Rəsm
Brewster pəncərəsi
Soldakı istinad rəsmində S-qütblü işığın əks olunması və P-qütblü işığın Brewster pəncərəsindən ötürülməsi göstərilir.Pəncərədən bəzi S-qütblü işıq ötürüləcək.
Parametrlər
Aralıqlar və Tolerantlıqlar
-
Substrat materialı
N-BK7 (A dərəcəsi), UV ilə əridilmiş silisium
-
Növ
Düz və ya Pazlı Lazer Pəncərə (dəyirmi, kvadrat və s.)
-
Ölçü
Sifarişlə hazırlanır
-
Ölçü Tolerantlığı
Tipik: +0.00/-0.20mm |Dəqiqlik: +0.00/-0.10mm
-
Qalınlıq
Sifarişlə hazırlanır
-
Qalınlığa Dözümlülük
Tipik: +/-0.20mm |Dəqiqlik: +/-0.10mm
-
Təmiz diyafram
> 90%
-
Paralellik
Dəqiqlik: ≤10 qövs |Yüksək dəqiqlik: ≤5 qövs
-
Səthin Keyfiyyəti (Qızılma - Qazma)
Dəqiqlik: 60 - 40 |Yüksək dəqiqlik: 20-10
-
Səthin hamarlığı @ 633 nm
Dəqiqlik: ≤ λ/10 |Yüksək dəqiqlik: ≤ λ/20
-
Köçürülən Dalğa Cəbhəsi Xətası
≤ λ/10 @ 632.8 nm
-
pax
Qorunur:< 0,5 mm x 45°
-
Kaplama
Örtülməmiş
-
Dalğa uzunluğu diapazonları
185 - 2100 nm
-
Lazer zədələnmə həddi
>20 J/sm2(20ns, 20Hz, @1064nm)
Qrafiklər
♦ Sağdakı qrafik müxtəlif düşmə bucaqlarında qütbləşmiş işıq üçün örtülməmiş UV əridilmiş silisiumun hesablanmış əksini göstərir (P-qütblü işıq üçün əksetmə Brewster bucağında sıfıra enir).
♦ UV əridilmiş silisium dioksidin sınma indeksi aşağıdakı sol qrafikdə göstərilən dalğa uzunluğuna görə dəyişir (200 nm-dən 2,2 mkm-ə qədər dalğa uzunluğunun funksiyası kimi UV əridilmiş silisium dioksidin hesablanmış sınma indeksi).
♦ Aşağıdakı sağdakı qrafik işıq havadan ultrabənövşəyi şüalarla əridilmiş silisium oksidinə keçən zaman dalğa uzunluğunun 200 nm-dən 2,2 mkm-ə qədər olan funksiyası kimi θB (Brewster bucağı) hesablanmış dəyərini göstərir.
Kırılma indeksi dalğa uzunluğundan asılıdır
