نوافذ بروستر بدون فقدان انعكاس الاستقطاب P
تُستخدم نوافذ بروستر عادةً كمستقطبات داخل تجاويف الليزر.عند وضعه في زاوية بروستر (55° 32′ عند 633 نانومتر)، سيمر الجزء المستقطب P من الضوء عبر النافذة دون أي خسائر، بينما سينعكس جزء من الجزء المستقطب S من نافذة بروستر.عند استخدامها في تجويف الليزر، تعمل نافذة بروستر بشكل أساسي كمستقطب.
يتم تحديد زاوية بروستر بواسطة
تان (θB) = نt/ni
θBهي زاوية بروستر
niهو معامل انكسار الوسط الساقط وهو 1.0003 للهواء
ntهو معامل انكسار وسط الإرسال، وهو 1.45701 للسيليكا المنصهرة عند 633 نانومتر
تقدم Paralight Optics نوافذ بروستر مصنعة من N-BK7 (الدرجة A) أو السيليكا المنصهرة بالأشعة فوق البنفسجية، والتي لا تظهر فعليًا أي فلورة مستحثة بالليزر (كما تم قياسها عند 193 نانومتر)، مما يجعلها خيارًا مثاليًا للتطبيقات من الأشعة فوق البنفسجية إلى الأشعة تحت الحمراء القريبة. .يرجى الاطلاع على الرسم البياني التالي الذي يوضح الانعكاس لكل من الاستقطاب S وP من خلال السيليكا المنصهرة بالأشعة فوق البنفسجية عند 633 نانومتر للحصول على مراجعك.
سمات:
مادة:
N-BK7 أو ركيزة السيليكا المنصهرة بالأشعة فوق البنفسجية
اختبار تقدير الأضرار بالليزر:
عتبة الأضرار العالية (غير المطلية)
العروض البصرية:
خسارة انعكاس صفرية للاستقطاب P، وانعكاس 20% للاستقطاب S
التطبيقات:
مثالية لتجاويف الليزر
المواصفات المشتركة:
الرسم المرجعي ل
نافذة بروستر
يُظهر الرسم المرجعي الموجود على اليسار انعكاس الضوء المستقطب S وانتقال الضوء المستقطب P عبر نافذة بروستر.سيتم نقل بعض الضوء المستقطب S عبر النافذة.
حدود
النطاقات والتسامح
-
مادة الركيزة
N-BK7 (الدرجة أ)، السيليكا المنصهرة بالأشعة فوق البنفسجية
-
يكتب
نافذة ليزر مسطحة أو إسفينية (دائرية، مربعة، إلخ.)
-
مقاس
مصنوع بطريقة مخصصة
-
التسامح الحجم
نموذجي: +0.00/-0.20 ملم |الدقة: +0.00/-0.10 ملم
-
سماكة
مصنوع بطريقة مخصصة
-
التسامح سمك
نموذجي: +/- 0.20 ملم |الدقة: +/-0.10 ملم
-
فتحة واضحة
> 90%
-
تماثل
الدقة: ≥10 ثانية قوسية |دقة عالية: ≥5 ثانية قوسية
-
جودة السطح (الخدش - الحفر)
الدقة: 60 - 40 |دقة عالية: 20-10
-
تسطيح السطح عند 633 نانومتر
الدقة: ≥ 10/10 |دقة عالية: ≥ φ/20
-
خطأ في واجهة الموجة المرسلة
≥ /10 @ 632.8 نانومتر
-
الشطب
محمي:<0.5 مم × 45 درجة
-
طلاء
غير مطلي
-
نطاقات الطول الموجي
185 - 2100 نانومتر
-
عتبة الضرر بالليزر
> 20 ي/سم2(20 نانو ثانية، 20 هرتز، @ 1064 نانومتر)
الرسوم البيانية
♦ يُظهر الرسم البياني الموجود على اليمين الانعكاس المحسوب للسيليكا المنصهرة بالأشعة فوق البنفسجية غير المطلية للضوء المستقطب عند زوايا سقوط مختلفة (يصل الانعكاس للضوء المستقطب P إلى الصفر عند زاوية بروستر).
♦ يختلف مؤشر انكسار السيليكا المنصهرة بالأشعة فوق البنفسجية مع الطول الموجي الموضح في الرسم البياني الأيسر التالي (المؤشر المحسوب لانكسار السيليكا المنصهرة بالأشعة فوق البنفسجية كدالة لطول الموجة من 200 نانومتر إلى 2.2 ميكرومتر).
♦ يوضح الرسم البياني الأيمن التالي القيمة المحسوبة لـ θB (زاوية بروستر) كدالة لطول الموجة من 200 نانومتر إلى 2.2 ميكرومتر عند مرور الضوء من الهواء إلى السيليكا المنصهرة بالأشعة فوق البنفسجية.
معامل الانكسار يعتمد على الطول الموجي
