Brewster Windows P-პოლარიზაციის ასახვის დანაკარგების გარეშე
Brewster ფანჯრები, როგორც წესი, გამოიყენება როგორც პოლარიზატორები ლაზერული ღრუებში.ბრუსტერის კუთხით განლაგებისას (55° 32′ 633 ნმ), სინათლის P-პოლარიზებული ნაწილი გაივლის ფანჯარას დანაკარგების გარეშე, ხოლო S-პოლარიზებული ნაწილის ნაწილი აისახება ბრუსტერის ფანჯრიდან.ლაზერის ღრუში გამოყენებისას, ბრუსტერის ფანჯარა არსებითად მოქმედებს როგორც პოლარიზატორი.
ბრიუსტერის კუთხე მოცემულია
რუჯი (θB) = nt/ni
θBარის ბრუსტერის კუთხე
niარის შემხვედრი გარემოს გარდატეხის მაჩვენებელი, რომელიც ჰაერისთვის არის 1.0003
ntარის გადამცემი გარემოს გარდატეხის ინდექსი, რომელიც არის 1,45701 მდნარი სილიციუმისთვის 633 ნმ.
Paralight Optics გვთავაზობს Brewster-ის ფანჯრები დამზადებულია N-BK7 (ხარისხი A) ან ულტრაიისფერი შერწყმული სილიციისგან, რომელიც პრაქტიკულად არ ავლენს ლაზერით გამოწვეულ ფლუორესცენციას (როგორც გაზომილია 193 ნმ), რაც მას იდეალურ არჩევანს ხდის ულტრაიისფერი სხივებიდან ახლო IR-მდე გამოყენებისთვის. .გთხოვთ, იხილოთ შემდეგი გრაფიკი, რომელიც გვიჩვენებს არეკვლას S- და P-პოლარიზაციისთვის UV შერწყმული სილიციუმის დიოქსიდის მეშვეობით 633 ნმ-ზე თქვენი მითითებისთვის.
Მახასიათებლები:
მასალა:
N-BK7 ან UV შერწყმული სილიციუმის სუბსტრატი
ლაზერული დაზიანების რაოდენობრივი ტესტი:
დაზიანების მაღალი ბარიერი (დაუფარავი)
ოპტიკური ფუნქციები:
ნულოვანი არეკვლის დაკარგვა P-პოლარიზაციისთვის, 20% ანარეკლი S-პოლარიზაციისთვის
აპლიკაციები:
იდეალურია ლაზერული ღრუებისთვის
საერთო სპეციფიკაციები:
საცნობარო ნახაზი ამისთვის
ბრუსტერის ფანჯარა
მითითების ნახაზი მარცხნივ გვიჩვენებს S-პოლარიზებული სინათლის ასახვას და P-პოლარიზებული სინათლის გადაცემას Brewster-ის ფანჯრის მეშვეობით.ზოგიერთი S-პოლარიზებული შუქი გადაიცემა ფანჯრიდან.
Პარამეტრები
დიაპაზონი და ტოლერანტობა
-
სუბსტრატის მასალა
N-BK7 (ხარისხი A), UV შერწყმული სილიციუმი
-
ტიპი
ბრტყელი ან ჭრელი ლაზერული ფანჯარა (მრგვალი, კვადრატი და ა.შ.)
-
ზომა
Შეკვეთით დამზადებული
-
ზომის ტოლერანტობა
ტიპიური: +0.00/-0.20 მმ |სიზუსტე: +0.00/-0.10 მმ
-
სისქე
Შეკვეთით დამზადებული
-
სისქის ტოლერანტობა
ტიპიური: +/-0.20 მმ |სიზუსტე: +/-0.10 მმ
-
წმინდა დიაფრაგმა
> 90%
-
პარალელიზმი
სიზუსტე: ≤10 რკალი წმ |მაღალი სიზუსტე: ≤5 რკალი
-
ზედაპირის ხარისხი (ნაკაწრი - გათხრა)
სიზუსტე: 60 - 40 |მაღალი სიზუსტე: 20-10
-
ზედაპირის სიბრტყე @ 633 ნმ
სიზუსტე: ≤ λ/10 |მაღალი სიზუსტე: ≤ λ/20
-
გადაცემული Wavefront შეცდომა
≤ λ/10 @ 632,8 ნმ
-
ჩამფერი
დაცულია:<0,5 მმ x 45°
-
საფარი
დაუფარავი
-
ტალღის სიგრძის დიაპაზონები
185 - 2100 ნმ
-
ლაზერული დაზიანების ბარიერი
>20 ჯ/სმ2(20 წმ, 20 ჰც, @1064 ნმ)
გრაფიკები
♦ გრაფიკი მარჯვნივ გვიჩვენებს დაუფარავი ულტრაიისფერი შერწყმული სილიციუმის გამოთვლილ ანარეკლს პოლარიზებული სინათლისთვის დაცემის სხვადასხვა კუთხით (P-პოლარიზებული სინათლის არეკვლა ბრუსტერის კუთხით ნულამდე მიდის).
♦ ულტრაიისფერი შერწყმული სილიციუმის დიოქსიდის გარდატეხის ინდექსი იცვლება ტალღის სიგრძის მიხედვით, რომელიც ნაჩვენებია შემდეგ მარცხენა გრაფიკზე (UV შერწყმული სილიციუმის გარდატეხის ინდექსი ტალღის სიგრძის მიხედვით 200 ნმ-დან 2,2 მკმ-მდე).
♦ ქვემოთ მოცემული მარჯვენა დიაგრამა აჩვენებს θB-ის (ბრუსტერის კუთხე) გამოთვლილ მნიშვნელობას, როგორც ტალღის სიგრძის ფუნქცია 200 ნმ-დან 2,2 მკმ-მდე, როდესაც სინათლე გადადის ჰაერიდან ულტრაიისფერი მდნარ სილიციუმზე.
გარდატეხის ინდექსი არის ტალღის სიგრძეზე დამოკიდებული
