Zehaztasun-leiho optiko lauak AR estaldurarekin edo gabe

Leiho optikoek sistema optiko edo elektronika sentikor baten eta kanpoko ingurunearen arteko babesa eskaintzen dute.Garrantzitsua da sisteman erabiltzen diren uhin-luzerak transmititzen dituen leiho bat hautatzea.Gainera, substratu-materialak aplikazioaren ingurumen-baldintzak jasateko gai izan behar du.Windows erabilgarriak dira laser-irteera bat ingurumen-ondorioetatik babesteko eta izpien laginketa aplikazioetarako.Lehioak substratu, tamaina eta lodiera ugaritan eskaintzen ditugu edozein aplikazio behar asetzeko.

Paralight Optics-ek hainbat substratu materialez fabrikatutako leiho optiko estandarrak eta doitasun handikoak eskaintzen ditu laser eta industria aplikazio ugaritan erabiltzeko.Gure substratuak N-BK7, UV Fused Silice (UVFS), Sapphire, Kaltzio Fluoruroa, Magnesio Fluoruroa, Potasio Bromuroa, Infrasil, Zink Selenuroa, Silizioa, Germanioa edo Bario Fluoruroa dira.Gure laser-leihoek uhin-luzera espezifikoko AR estaldura dute, normalean erabiltzen diren laser uhin-luzeretan eta aukerako ziri baten inguruan zentratuta, eta gure doitasun-leihoak, berriz, banda zabaleko AR estaldurarekin edo gabe eskaintzen dira, errendimendu optiko ona eskaintzen du 0° eta 30 arteko intzidentzia-angeluetarako (AOI). °.

Hemen kaltzio fluoruroaren leiho laua zerrendatzen dugu.Kaltzio-fluoruroak xurgapen koefiziente baxua eta kalte-atalase handia ditu, leiho hauek espazio libreko laserrekin erabiltzeko aukera ona bihurtzen dute.Gure kaltzio fluoruroa (CaF₂) Zehaztasun handiko leiho lauak estali gabe edo banda zabaleko estalduraren aurkako estaldurarekin.Estali gabeko leihoek transmisio handia ematen dute ultramoretik (180 nm) infragorrira (8 μm).AR estalitako leihoek islapenaren aurkako estaldura dute bi aldeetan, transmisio handiagoa ematen duena 1,65 – 3,0 µm zehaztutako uhin-luzera tartean.Xurgapen koefiziente baxua eta kalte-atalase handia kontuan hartuta, estali gabeko kaltzio fluoruroaren kristala aukera ezaguna da laser exzimerekin erabiltzeko.CaF₂leihoak kriogenikoki hoztutako irudi termikoko sistemetan ere erabiltzen dira.Mesedez, begiratu hurrengo grafikoak zure erreferentziak ikusteko.

Ezaugarriak:

Material aukerak:

Ikusi hurrengo leiho lauen hautaketa

Uhin-luzera sorta:

baldintzak bezala

Estaldura aukerak:

Estali gabeko edo AR estalitako eskaera gisa eskuragarri

Aukera pertsonalizatuak:

Diseinu, tamaina eta lodiera desberdinak eskuragarri

Zehaztapen komunak:

pro-lotu-ico — Ezkerreko inprimaki hau zure erreferentzietarako leihoak aukeratzeko gida orokorra da.

Parametroak

Tarteak eta Perdoiak

Substratua Materiala

N-BK7 (CDGM H-K9L), UV fusionatutako silizea (JGS 1) edo beste IR material batzuk
Mota

Leiho lau estandarra (borobila, karratua, etab.)
Tamaina

Enkarguz
Tamainaren tolerantzia

Tipikoa: +0,00/-0,20 mm |Zehaztasuna: +0,00/-0,10 mm
Lodiera

Enkarguz
Lodiera-tolerantzia

Tipikoa: +/-0,20 mm |Zehaztasuna: +/-0,10 mm
Irekidura garbia

> %90
Paralelismoa

Estali gabea: ≤ 10 arku segundo |AR Estaldura: ≤ 30 arkuseg
Gainazalaren kalitatea (Scratch - Dig)

Zehaztasuna: 40-20 |Zehaztasun handia: 20-10
Azalera lautasuna @ 633 nm

Tipikoa: ≤ λ/4 |Zehaztasuna: ≤ λ/10
Transmititutako Wavefront Error @ 633 nm

Estali gabea: ≤ λ/10 25 mm-ko |AR estalita: ≤ λ/8 25 mm-ko
Txanflarra

Babestua:< 0,5 mm x 45°
Estaldura

Banda estua: Ravg< % 0,25 gainazal bakoitzeko 0° AOI-n
Banda Zabala: Ravg<% 0,5 gainazal bakoitzeko 0° AOI-n
Laser Kalteen Atalasea

UVFS: >10 J/cm²(20ns, 20Hz, @1064nm)
Beste Substratua: >5 J/cm^{2(20ns, 20Hz, @1064nm)}