Πυρίτιο (Si)
Επίπεδοι-κυρτές φακοί
Όταν αποφασίζετε μεταξύ ενός επίπεδου κυρτού φακού και ενός αμφίκυρτου φακού, που και οι δύο προκαλούν τη σύγκλιση ευθυγραμμισμένου προσπίπτοντος φωτός, είναι συνήθως πιο κατάλληλο να επιλέξετε έναν επίπεδο κυρτό φακό εάν η επιθυμητή απόλυτη μεγέθυνση είναι είτε μικρότερη από 0,2 είτε μεγαλύτερη από 5. Μεταξύ αυτών των δύο τιμών, προτιμώνται γενικά οι αμφίκυρτοι φακοί.
Το πυρίτιο προσφέρει υψηλή θερμική αγωγιμότητα και χαμηλή πυκνότητα.Ωστόσο, έχει ισχυρή ζώνη απορρόφησης στα 9 μικρά, δεν είναι κατάλληλο για χρήση με εφαρμογές μετάδοσης λέιζερ CO2.Η Paralight Optics προσφέρει Silicon (Si) Plano-Convex φακοί είναι διαθέσιμοι με επίστρωση AR ευρείας ζώνης βελτιστοποιημένη για το φασματικό εύρος 3 μm έως 5 μm που εναποτίθεται και στις δύο επιφάνειες.Αυτή η επίστρωση μειώνει σημαντικά την επιφανειακή ανάκλαση του υποστρώματος, αποδίδοντας υψηλή μετάδοση και ελάχιστη απορρόφηση σε ολόκληρη την περιοχή επικάλυψης AR.Ελέγξτε τα Γραφήματα για τις αναφορές σας.
Χαρακτηριστικά:
Υλικό:
Πυρίτιο (Si)
Υπόστρωμα:
Χαμηλή πυκνότητα & υψηλή θερμική αγωγιμότητα
Επιλογές επίστρωσης:
Χωρίς επίστρωση ή με Αντιανακλαστικές & DLC επιστρώσεις για το εύρος 3 - 5 μm
Εστιακά μήκη:
Διατίθεται από 15 έως 1000 mm
Κοινές προδιαγραφές:
Σχέδιο αναφοράς για
Επίπεδο-κυρτός (PCX) φακός
Διάμετρος: Διάμετρος
στ: Εστιακό μήκος
ff: Μπροστινό εστιακό μήκος
fb: Εστιακό μήκος πίσω
R: Ακτίνα
tc: Πάχος κέντρου
te: Πάχος άκρων
H”: Back Principal Plane
Σημείωση: Η εστιακή απόσταση καθορίζεται από το πίσω κύριο επίπεδο, το οποίο δεν ευθυγραμμίζεται απαραίτητα με το πάχος της άκρης.
Παράμετροι
Εύρος & ανοχές
-
Υλικό Υποστρώματος
Πυρίτιο (Si)
-
Τύπος
Φακός Plano-Concex (PCX).
-
Δείκτης Διάθλασης
3,422 @ 4,58 μm
-
Αριθμός Abbe (Vd)
Μη καθορισμένο
-
Συντελεστής θερμικής διαστολής (CTE)
2,6 x 10-6/ στους 20℃
-
Ανοχή διαμέτρου
Ακρίβεια: +0,00/-0,10mm |Υψηλή Ακρίβεια: +0,00/-0,02 mm
-
Ανοχή πάχους
Ακρίβεια: +/-0,10 mm |Υψηλή Ακρίβεια: -0,02 χλστ
-
Ανοχή εστιακού μήκους
+/- 1%
-
Ποιότητα επιφάνειας (Scratch-Dig)
Ακρίβεια: 60-40 |Υψηλή Ακρίβεια: 40-20
-
Επιπεδότητα επιφάνειας (πλάγια όψη)
λ/4
-
Ισχύς σφαιρικής επιφάνειας (κυρτή πλευρά)
3 λ/4
-
Επιφανειακή ανωμαλία (από κορυφή έως κοιλάδα)
λ/4
-
συγκέντρωση
Ακρίβεια:<3 τόξο λεπτά |Υψηλή Ακρίβεια: <30 τόξο δευτερολέπτων
-
Καθαρό διάφραγμα
90% της διαμέτρου
-
Σειρά επίστρωσης AR
3 - 5 μm
-
Μετάδοση μέσω του εύρους επίστρωσης (@ 0° AOI)
Tavg > 98%
-
Ανάκλαση στο εύρος επίστρωσης (@ 0° AOI)
Ravg< 1,25%
-
Μήκος κύματος σχεδίασης
4 μm
-
Κατώφλι βλάβης με λέιζερ
0,25 J/cm2(6 ns, 30 kHz, @3,3μm)
Γραφικές παραστάσεις
♦ Καμπύλη μετάδοσης μη επικαλυμμένου υποστρώματος Si: υψηλή μετάδοση από 1,2 έως 8 μm
♦ Καμπύλη μετάδοσης υποστρώματος Si επικαλυμμένου με AR: Tavg > 98% στην περιοχή 3 - 5 μm
♦ Καμπύλη μετάδοσης υποστρώματος DLC + AR-Coated Si: Tavg > 90% στην περιοχή 3 - 5 μm
Καμπύλη μετάδοσης υποστρώματος πυριτίου με επίστρωση AR (3 - 5 μm).
