1 Definitio et causa damnum subsurfaciendi
Sub-superficies damnum partium opticorum (SSD, damnum sub-superficialis) nominari solet in applicationibus opticis summo subtilitate sicut intensa systemata laserarum et machinis lithographiae, et exsistentia eius limitat processus finales subtiliter componentium opticorum et imaginatio ulterius afficit perficiendi systematum opticorum, satis attentio praestanda est.Damnum subsurfacii plerumque in superficie elementi et stratis vis internis rimas insignitur, quae causantur ex aliqua ruptione residua et deformatione compositionis materialis in area superficiei proxima.Subsurface damnum exemplar ostenditur sic: summo iacuit iacuit faex politus, et tunc rima defectus iacuit et iacuit lacus deformatio fundum iacuit, et iacuit materia sine damno est iacuit intimum.Apud eos, stratum crepitum defectionis et deformatio accentus iacuit subsurface damna sunt.
Subsurface damnum exemplar materiae optical
Partes opticae materiae sunt plerumque vitreae, ceramicae et aliae materiae durae et fragiles, in primo processu partium, necesse est ut per molam molam, denique stridorem et asperam processuum politionem, in his processibus, stridor mechanica et chemicae motus existunt. et partes agit.Instrumentum abrasivum vel abrasivum in contactu cum superficie elementi notas habet inaequales quantitatis particulae, et vis cujuslibet contactus punctum in superficie elementi non est uniformis, ergo stratum convexum et concavum et rima interna iacuit. produci in superficie vitrea.Materia quae in strato rupta est elementum est quod per stridorem processum fractum est, sed in superficie non cecidit, ita damnum sub-superficie formabitur.Utrum laesura sit stridor particularum resolutarum vel CNC stridor, hoc phaenomenon in superficie materiae formabitur.Effectus actualis damni sub-superficiis in sequenti figura ostenditur:
Subsurface damnum reddens
II Subsurface damna modi mensurae
Cum damnum sub-superficie neglectum esse non potest, efficaciter a fabricatoribus opticis componi debet.Ut efficaciter refrenetur, necesse est accurate cognoscere et deprehendere magnitudinem damni subsurfacii in superficie componentis, cum prima parte superiore saeculo, homines varios modos elaboraverunt ad magnitudinem metiendam et aestimandam. damnum subsurfacientis componentis, secundum modum quantitatis influentiae in parte optica, in duo genera dividi potest: mensurae perniciosa et non perniciosa (probatio non perniciosa).
Methodus mensurae perniciosa, ut nomen sonat, opus est structuram superficiei elementi optici mutare, ut damnum sub- superficiei, quod non facile observare potest, patefieri possit, et tum microscopio et aliis instrumentis uti ad observandum. Methodus mensurae, haec methodus fere tempus consumens est, sed mensurae eventus certae et accuratae sunt.Modi mensurae non perniciosae, quae damnum adiectionem superficiei componentis non faciunt, uti lucis, soni, vel aliorum fluctuum electromagneticorum ad subsurface damnum iacuit detegendis, et in usu rerum copia mutationes quae fiunt in lavacro ad quantitatem aestimandam. in SSD, tales methodi sunt convenientia et facilia, sed plerumque observatio qualitativa.Secundum hanc classificationem, modi deprehensio currentis damni sub-superficiis in figura infra monstrantur:
Classification and summary of subsurface damnum deprehendendi modi
Quarum mensurarum methodorum brevis descriptio sequitur:
A. Destructive modi
a) poliendi modum
Ante speciem magnetorheologicae poliendi, operarii optici usi sunt Taper poliendo ad analysim sub-superficies damnum partium opticorum, hoc est, superficiem opticam secantes per angulum obliquum ad superficiem internam obliquam formare, ac deinde superficiem obliquam polire.Vulgo creditur politionem non aggravare damnum originale sub-superficie.rimas stratorum SSD manifestius revelabuntur per immersionem corrosionis cum reagentibus chemicis.Altitudo, longitudo et aliae informationes iacuit sub-superficie damni metiri possunt observatione optica superficiei inclinatae post immersionem.Postea phisici methodum pilam dimpling (Ball dimpling), quod est instrumento sphaerico poliendo utatur ad superficiem poliendam, postquam molere, foveam emittere, profunditas foveae quam maxime debet esse, ut analysin. latere putei subsurface damnum informationes superficiei originalis consequi potest.
Communes modi deprehendendi subsurface damnum elementorum opticorum
Magnetorheologica politio (MRF) est ars quae liquore magnetico utitur ad partes opticas expoliendas, quae differt a bitumine tradito/polyurethano poliendo.In traditionalem poliendorum methodo, politio instrumentum plerumque magnam vim normalem in superficie optica exercet, dum Mr Poloning superficies optica in directione tangentiali removet, ergo Mr politura primas sub-superficies damnum notarum superficiei optici non mutat.Ergo Mr expolitio adhiberi potest ad rimam poliendam in superficie optica.Tunc area politurae resolvitur ad aestimandam magnitudinem damni subsurfacii originalis superficiei optici.
a) Acta gluten modum
Haec methodus etiam adhibita est damnum sub-superficie experiendi.Revera, exemplum quadratum cum eadem figura et materia elige, duas superficies exempli expolire, et deinde utere tenaces ad glutinandum duas superficies expolitae specimen simul, et latera duorum exemplorum simul in eodem tere. tempus.Post molere, reagentia chemica duo exemplaria quadrata separare adhibita sunt.Magnitudo damni subsurfacii ab scaena stridoris causato aestimari potest, servando superficiem separatam cum microscopio polito.Processus schematici schematis methodi talis est:
Schematic tabula subsurface damnum deprehensio per obstructionum tenaces modum
Haec methodus certos limites habet.Quia superficies glutinosa est, condicio superficiei visci non potest plene considerare damnum actualem subsurfacium intra materiam post molere, ideo mensurae eventus solum SSD condicionem quodammodo reflectere possunt.
a) Chemical etching
Methodus agentibus chemicis utitur ad iacum laesum superficiei opticae diruendae.Postquam processus exesa completur, damnum subsurface aestimatur ex superficiei figura et asperitate superficiei componentis et index mutationis rate exesionis.Communiter adhibiti reagentes chemici sunt acidum hydrofluoricum (HF), ammonium hydrogenii fluoride (NH4HF) et aliorum agentium mordax.
b) sectionem modum crucis
Specimen dissectum est et microscopio electronico inspecto adhibetur ut magnitudinem damni subsurfacii directe observet.
c) Dye modum impregnationis
Quia iacuit superficies terrae elementi optici magnum numerum continet microcrackorum, colores colores formare possunt contrariae cum substrati optici vel discrepantiae cum subiecto in materia deprimi possunt.Si substratum est in materia obscura, tingui fluorescentes adhiberi possunt.Damnum sub-superficies tunc optice vel electronice facile sedari potest.Quia rimas plerumque tenuissimas et intra materiam, cum penetratio profunditatis tingit non sufficit penetratio, potest non repraesentare veram altitudinem microcrack.Ad altitudinem rimam quam accuratissime obtinendam, propositae sunt nonnullae methodi ad tincturas impregnandas: pressio mechanica et frigida pressio isostatica, et usus electronici pervestigationis microanalysis (EPMA) ad vestigia tincturae in valde depressis concentionibus deprehendendis.
B, modos non destruentes
a) Aestimatio modum
Aestimatio methodi maxime aestimat altitudinem sub-superficiis damni secundum magnitudinem particulae magnitudinis materiae laesurae et magnitudinem superficiei asperitatis componentis.Investigatores magno numero testium utuntur ad constituendam debitam relationem inter particulam magnitudinem materiae laesurae et altitudinem damni sub-superficii, necnon mensae congruens inter magnitudinem superficiei asperitatis componentis et sub- damno superficiei.Subsurface damnum superficiei hodiernae componentis utendo eorum correspondentia aestimari potest.
b) Optical Coherence Tomographia (OCT)
Cohaerentia optica tomographiae, cuius principium est Michelson impedimentum fundamentale, informationem mensuratam per intercessiones duorum radiorum lucis aestimat.Haec ars vulgo adhibetur ad fibras biologicas observandas et tomographiam sectionis transversim subsurfacii structurae textus.Cum ars subsurface damnum superficiei opticalis observare adhibetur, index refractivus parametri mensurati specimen habendus est ad ipsam altitudinem rimam obtinendam.Methodus defectus in altitudinem 500μm cum verticali melioris quam 20µm resolutione potest parem deprehendere.Attamen, cum ad detectionem materiae opticarum SSD adhibetur, lux quae ex SSD iacuit relucet est relative infirma, ita difficile est impedimentum formare.Praeterea superficies dissipatio etiam eventus mensuras afficit et mensurae accuratio emendari debet.
c) Laser spargendi modum
Irradiatio laser in superficie photometrica, cum proprietates spargens laseris ad quantitatem damni subsurfacientis aestimandam, etiam late studuit.Communia includunt Totalem microscopiam internam refectionem (TIRM), laser confocal microscopiam intuens (CLSM), et microscopia confocal secans polarizationem (CPCM).cross-polarization microscopio confocal, etc.
d) ENARRATIO acusticus microscopii
Scanning acoustic microscopy (SAM), sicut detectio ultrasonica methodus, methodus probata non perniciosa est quae late adhibetur ad defectus internos deprehendendos.Solet haec methodus uti exempla in superficiebus levibus metiri.Cum superficies sample valde aspera est, mensura accuratio ob influxum fluctuum superficiei dispersae reducetur.
III Subsurface damnum imperium modi
Propositum Nostrum ultimum est subsurface damnum partium opticorum opticorum temperare efficaciter et partes obtinere quae SSDS penitus removent.In communibus adiunctis, profunditas sub-superficialis damni proportionalis est quantitati abrasivae particulae, quo minus particulae laesurae, humilior sub-superficie damnum, granularitatem molendi et plene minuendo. stridor, efficaciter emendare potes gradum sub-superficie damni.Processus schematis superficie damnum in gradibus moderandis sub-superficiis in figura monstratur infra:
Subsurface damnum in gradibus regitur
Primus gradus stridor in superficie blank damnum subsurfacit plene tollet et novum subsurfaciem in hoc stadio producet, et deinde in secundo stadio molendi, necesse est SSD in primo stadio generatum removere et novam subsurfaciem damna producere. iterum processus in vicem, et domas particulae magnitudinis et puritatis laesurae, et tandem optica superficies optica obtinenda.Hoc quoque est processus belli, quod fabricatio optica centum annos consecuta est.
Praeterea, post processum stridorem, servantur superficies componentis damnum sub-superficie efficaciter removere potest, eo quod qualitatem superficiei meliori et efficientiam processus augens.
Contactus:
Email:jasmine@pliroptics.com ;
Phone/Whatsapp/Wechat:86 19013265659
web：www.pliroptics.com
Add: Aedificium 1, No.1558, via intelligentia, qingbaijiang, chengdu, sichuan, china
Post tempus: Apr-18-2024
