د نظری عناصرو د سطحی زیان

د فرعي سطحې د زیان رسول

2 د ځمکې د سطحې د زیان اندازه کولو میتودونه

څرنګه چې د فرعي سطحې زیان له پامه غورځول کیدی نشي، دا باید په اغیزمنه توګه د نظری برخې جوړونکو لخوا کنټرول شي.د دې د مؤثره کنټرول لپاره ، دا اړینه ده چې د برخې په سطحه د ځمکې لاندې زیانونو اندازه په دقیق ډول وپیژني او کشف کړي ، د تیرې پیړۍ له پیل راهیسې ، خلکو د اندازې اندازه کولو او ارزولو لپاره مختلف میتودونه رامینځته کړي. د اجزا د فرعي سطحې زیان په نظري برخې باندې د نفوذ درجې حالت سره سم، دا په دوو کټګوریو ویشل کیدی شي: ویجاړونکي اندازه کول او غیر ویجاړونکي اندازه (غیر ویجاړونکي ازموینه).

د تخریبي اندازه کولو طریقه، لکه څنګه چې نوم وړاندیز کوي، د نظری عنصر د سطحی جوړښت بدلولو ته اړتیا ده، ترڅو د فرعي سطحې زیان چې د لیدلو لپاره اسانه نه وي څرګند شي، او بیا د مایکروسکوپ او نورو وسایلو څخه کار واخلئ ترڅو مشاهده شي. د اندازه کولو طریقه، دا طریقه معمولا وخت نیسي، مګر د اندازه کولو پایلې د اعتبار وړ او دقیقې دي.د غیر تخریبي اندازه کولو میتودونه چې د اجزاو سطحې ته اضافي زیان نه رسوي، رڼا، غږ، یا نور بریښنایی مقناطیسي څپې د ځمکې د سطحې د زیان د پرت معلومولو لپاره کاروي، او د ملکیت بدلونونو مقدار چې دوی یې په پرت کې واقع کیږي د اندازې ارزولو لپاره کاروي. د SSD، دا ډول میتودونه نسبتا اسانه او ګړندي دي، مګر معمولا یو کیفیتي مشاهده.د دې ډلبندۍ له مخې، د فرعي سطحې زیانونو د معلومولو اوسني میتودونه په لاندې شکل کې ښودل شوي:

د ځمکې د سطحې د زیانونو د موندلو میتودونو طبقه بندي او لنډیز

د دې اندازه کولو میتودونو لنډ توضیحات په لاندې ډول دي:

الف. تخریبي میتودونه

a) د پالش کولو طریقه

د مقناطیسي پالش کولو څخه دمخه، نظری کارکونکي معمولا د نظری اجزاو د فرعي سطحي زیان تحلیل کولو لپاره د ټیپر پالش کولو څخه کار اخلي، دا د دې لپاره چې د نظری سطحه د یوې زاویه زاویه سره پرې کړي ترڅو یو تریخ داخلي سطحه جوړه کړي، او بیا د تڼۍ سطحه پالش کړي.عموما داسې انګیرل کیږي چې پالش کول به د اصلي فرعي سطحې زیان زیات نه کړي.د SSD پرت درزونه به په څرګنده توګه د کیمیاوي ریجنټونو سره د ډوبیدو زنګ وهلو له لارې څرګند شي.د فرعي سطحې د زیان د پرت ژوروالی، اوږدوالی او نور معلومات د ډوبیدو وروسته د متوجه سطحې د نظری نظارت لخوا اندازه کیدی شي.وروسته ساینس پوهانو د بال ډیمپلینګ میتود (بال ډیمپلینګ) ایجاد کړ ، چې د کروي پالش کولو وسیلې څخه کار اخیستل کیږي ترڅو د پیس کولو وروسته سطحه پالش کړي ، کندې وباسي ، د کندې ژوروالی باید د امکان تر حده ژور وي ، ترڅو تحلیل شي. د کندې اړخ کولی شي د اصلي سطحې د فرعي سطحې زیان معلومات ترلاسه کړي.

د نظری عناصرو د فرعي سطحې زیان موندلو لپاره عام میتودونه

مقناطیسي پولینګ (MRF) یو تخنیک دی چې د نظری اجزاو د پالش کولو لپاره مقناطیسي مایع پټه کاروي، کوم چې د دودیز اسفالټ/پولیوریتان پالش کولو څخه توپیر لري.د پالش کولو په دودیز میتود کې ، د پالش کولو وسیله معمولا په نظری سطح کې لوی نورمال ځواک کاروي ، پداسې حال کې چې د ښاغلي پالش کولو نظري سطح په تنګیني اړخ کې لرې کوي ، نو د ښاغلي پالش کولو د نظری سطحې اصلي فرعي سطحي زیان ځانګړتیاوې نه بدلوي.له همدې امله ، د ښاغلي پالش کول په نظری سطح کې د نالی پالش کولو لپاره کارول کیدی شي.بیا د پالش کولو ساحه د اصلي نظری سطحې د فرعي سطحې زیان اندازه ارزولو لپاره تحلیل کیږي.

a) د بلاک کولو طریقه

دا میتود د فرعي سطحې زیانونو ازموینې لپاره هم کارول شوی.په حقیقت کې، د ورته شکل او موادو سره یو مربع نمونه غوره کړئ، د نمونې دوه سطحونه پالش کړئ، او بیا د نمونې دوه پالش شوي سطحې سره د چپک کولو لپاره چپکونکي وکاروئ، او بیا د دواړو نمونو اړخونه په یو ځای کې سره وخورئ. وختد پیسولو وروسته، کیمیاوي ریجنټونه د دوه مربع نمونو د جلا کولو لپاره کارول کیږي.د ځمکې د سطحې د زیان اندازه چې د پیس کولو مرحلې له امله رامینځته کیږي د مایکروسکوپ سره د جلا شوي پالش شوي سطح مشاهده کولو سره ارزول کیدی شي.د میتود د پروسې سکیمیک ډیاګرام په لاندې ډول دی:

د بلاک چپکونکي میتود په واسطه د ځمکې د سطحې زیان کشف کولو سکیماتیک ډیاګرام

دا طریقه ځینې محدودیتونه لري.ځکه چې د چپچینې سطحه شتون لري، د چپچینې سطح حالت ممکن د پیس کولو وروسته د موادو دننه د اصلي فرعي سطحې زیان په بشپړه توګه منعکس نه کړي، نو د اندازه کولو پایلې یوازې د SSD حالت یو مشخص حد ته منعکس کولی شي.

a) کیمیاوي نقاشي

دا طریقه مناسب کیمیاوي اجنټ کاروي ترڅو د نظری سطح خراب شوی پرت له منځه یوسي.وروسته له دې چې د تخریب پروسه بشپړه شي، د فرعي سطحې زیان د سطحې شکل او د اجزاو د سطحې خړپړتیا او د تخریب نرخ د شاخص بدلون لخوا ارزول کیږي.په عام ډول کارول شوي کیمیاوي ریجنټونه د هایدروفلوریک اسید (HF)، امونیم هایدروجن فلورایډ (NH4HF) او نور د ککړونکي اجنټان دي.

b) د کراس برخې میتود

نمونه جلا شوې او د سکین کولو الکترون مایکروسکوپ کارول کیږي ترڅو مستقیم د ځمکې لاندې زیان اندازه وګوري.

c) د رنګ کولو طریقه

ځکه چې د ځمکې د نظری عنصر سطحی طبقه ډیری مایکرو کریکونه لري، رنګونه چې کولی شي د نظری سبسټریټ سره د رنګ برعکس یا د سبسټریټ سره برعکس په موادو کې فشار راوړي.که چیرې سبسټریټ د تیاره موادو څخه جوړ وي، د فلوروسینټ رنګونه کارول کیدی شي.د فرعي سطحې زیان بیا په اسانۍ سره په نظري یا بریښنایی ډول چیک کیدی شي.ځکه چې درزونه معمولا ډیر ښه وي او د موادو دننه وي، کله چې د رنګ د ننوتلو ژوروالی کافي نه وي، دا ممکن د مایکروکریک ریښتینې ژورتیا استازیتوب ونکړي.د دې لپاره چې د امکان تر حده د کریک ژوروالی ترلاسه شي، د رنګونو د امیندوارۍ لپاره یو شمیر میتودونه وړاندیز شوي: میخانیکي پریپریس کول او سړه اسوسټیټیک فشار، او د الکترون پروب مایکرو اینالیسس (EPMA) کارول ترڅو په خورا ټیټ غلظت کې د رنګ نښې کشف کړي.

ب، غیر ویجاړونکي طریقې

a) د اټکل کولو طریقه

د اندازې کولو طریقه په عمده توګه د فرعي سطحې د زیانونو ژوروالی د کثافاتو موادو د ذرو د اندازې او د برخې د سطحې د کچو د اندازې سره سم اټکل کوي.څیړونکي د کثافاتو موادو د ذرې اندازې او د فرعي سطحې زیانونو ژوروالي تر مینځ ورته اړیکه رامینځته کولو لپاره ډیری ازموینې کاروي ، په بیله بیا د اجزاو د سطحې خاموالي او فرعي سطحې اندازې ترمینځ د مطابقت میز. د سطحې زیان.د اوسني اجزاو د سطحې د سطحې زیان د دوی د اړیکو په کارولو سره اټکل کیدی شي.

ب) نظری همغږی توموګرافی (OCT)

د نظری همغږي توموګرافي، چې بنسټیز اصل یې د مایکلسن مداخله ده، اندازه شوي معلومات د رڼا دوه بیمونو د مداخلې سیګنالونو له لارې ارزوي.دا تخنیک عموما د بیولوژیکي نسجونو د لیدلو لپاره کارول کیږي او د نسج د فرعي سطحي جوړښت کراس برخې ټوموګرافي ورکوي.کله چې د OCT تخنيک د نظري سطحې د فرعي سطحي زيان مشاهده کولو لپاره کارول کيږي، د اندازه شوي نمونې د انعکاس شاخص پارامتر بايد په پام کې ونيول شي چې د اصلي درز ژوروالی ترلاسه کړي.د راپور له مخې دا میتود کولی شي نیمګړتیاوې د 500μm په ژوروالي کې د 20μm څخه غوره عمودی ریزولوشن سره کشف کړي.په هرصورت، کله چې دا د نظری موادو د SSD کشف لپاره کارول کیږي، د SSD پرت څخه منعکس شوي رڼا نسبتا کمزورې وي، نو د مداخلې رامینځته کول ستونزمن دي.سربیره پردې ، د سطحې توزیع کول به د اندازه کولو پایلو باندې هم اغیزه وکړي ، او د اندازه کولو دقت باید ښه شي.

c) د لیزر د توزیع کولو طریقه

په فوتومیټریک سطح کې د لیزر شعاع ، د لیزر د توزیع کولو ملکیتونو په کارولو سره د ځمکې د سطحې زیان اندازه ارزولو لپاره هم په پراخه کچه مطالعه شوې.په عامو کې شامل دي ټول داخلي انعکاس مایکروسکوپي (TIRM)، د کنفوکل لیزر سکین کولو مایکروسکوپي (CLSM)، او د متقابل قطبي کولو کانفوکل مایکروسکوپي (CPCM).کراس پولرائزیشن کنفوکال مایکروسکوپي، او داسې نور

d) د اکوسټیک مایکروسکوپ سکین کول

د اکوسټیک مایکروسکوپي سکین کول (SAM) ، د الټراسونیک کشف میتود په توګه ، د غیر تخریبي ازموینې میتود دی چې په پراخه کچه د داخلي نیمګړتیاو موندلو لپاره کارول کیږي.دا طریقه معمولا د نرمو سطحو سره د نمونو اندازه کولو لپاره کارول کیږي.کله چې د نمونې سطحه ډیره خرابه وي، د اندازه کولو دقت به د سطحي ویشل شوي څپو د نفوذ له امله کم شي.

3 د ځمکې لاندې د زیانونو کنټرول میتودونه

دا زموږ وروستی هدف دی چې په مؤثره توګه د آپټیکل اجزاو د فرعي سطحې زیان کنټرول کړو او هغه برخې ترلاسه کړو چې په بشپړ ډول SSDS لرې کوي.په نورمال حالتونو کې، د فرعي سطحې زیان ژوروالی د خړوبونکي ذرات د اندازې سره متناسب دی، د کثافاتو د ذرې اندازه کوچنۍ، د فرعي سطحې زیان کم وي، نو له همدې امله، د پیس کولو د اندازې کمولو سره، او په بشپړه توګه. پیس کول، تاسو کولی شئ په مؤثره توګه د فرعي سطحې زیان درجې ته وده ورکړئ.په مرحلو کې د فرعي سطحې زیان کنټرول پروسس کولو ډیاګرام په لاندې شکل کې ښودل شوی:

د ځمکې سطحې زیان په مرحلو کې کنټرول کیږي
د پیسولو لومړۍ مرحله به په خالي سطحه کې د فرعي سطحې زیان په بشپړه توګه لیرې کړي او پدې مرحله کې یو نوی فرعي سطح تولید کړي، او بیا د پیس کولو په دویمه مرحله کې، دا اړینه ده چې په لومړي مرحله کې تولید شوي SSD لیرې کړي او نوي فرعي زیانونه تولید کړي. یوځل بیا ، په بدل کې پروسس کول ، او د کثافاتو ذرې اندازه او پاکوالي کنټرول کړئ ، او په پای کې تمه شوي نظری سطح ترلاسه کړئ.دا د پروسس کولو ستراتیژي هم ده چې نظری تولید د سلګونو کلونو لپاره تعقیب کړی.

برسېره پردې، د پیس کولو پروسې وروسته، د برخې سطحه غوره کول کولی شي په مؤثره توګه د فرعي سطحې زیانونه لرې کړي، په دې توګه د سطح کیفیت ښه کوي او د پروسس موثریت ښه کوي.

اړیکه:
Email:jasmine@pliroptics.com ;
تلیفون/واټس اپ/ویچټ: 86 19013265659
ویب:www.pliroptics.com

اضافه کړئ: ودانۍ 1، نمبر 1558، استخباراتي سړک، کینګ بایجیانګ، چینګدو، سیچوان، چین