फिल्म पैरामीटर परीक्षण - संप्रेषण और परावर्तन

उपरोक्त ऑप्टिकल गुणों के अलावा, ऑप्टिकल फिल्म परत के यांत्रिक और रासायनिक गुणों पर भी विचार करने की आवश्यकता है, जिसमें फिल्म परत के पहनने के प्रतिरोध, दृढ़ता, घुलनशीलता शामिल है।इसके अलावा, कोटिंग के बाद ऑप्टिकल सतह की गुणवत्ता पर भी विचार करने की आवश्यकता है, जिसमें गड्ढे, खरोंच, गंदगी, दाग आदि की आवश्यकताएं शामिल हैं।
2 स्पेक्ट्रोफोटोमीटर का सिद्धांत

इस पेपर में, हम फिल्म परीक्षण विधियों के ऑप्टिकल गुणों पर ध्यान केंद्रित करते हैं, व्यवहार में, फिल्म मापदंडों का परीक्षण करने के लिए मुख्य स्पेक्ट्रोफोटोमीटर (स्पेक्ट्रोफोटोमीटर) और एलिप्सोमीटर (एलिप्सोमीटर), स्पेक्ट्रोफोटोमीटर ऑप्टिकल के संप्रेषण, परावर्तन और अवशोषण विशेषताओं का परीक्षण कर सकते हैं। उत्पाद.एलिप्सोमीटर फिल्म परत की मोटाई और ध्रुवीकरण विशेषताओं को माप सकता है, और दोनों का सिद्धांत समान है।
ऐसे उपकरण की संरचना को बीम जेनरेशन चैनल और बीम प्राप्त करने वाले चैनल के दो भागों में विभाजित किया जा सकता है, जब घटक के संप्रेषण का परीक्षण करने की आवश्यकता होती है, तो घटक को दो चैनलों के बीच में रखा जाता है, ताकि बीम नमूने से होकर गुजरता है, जब घटक की परावर्तनशीलता का परीक्षण करने की आवश्यकता होती है, तो घटक को दो चैनलों के एक ही तरफ रखा जाता है, ताकि किरण नमूने द्वारा प्रतिबिंबित हो।उदाहरण के तौर पर, किसी नमूने के संप्रेषण को मापने के लिए स्पेक्ट्रोफोटोमीटर का सिद्धांत निम्नलिखित चित्र में दिखाया गया है:

उपरोक्त चित्र में, बायां सिरा बीम जेनरेशन चैनल है, जो प्रकाश उत्सर्जित करने के लिए एक विस्तृत स्पेक्ट्रम प्रकाश स्रोत का उपयोग करता है, और फिर झंझरी के विभाजन और स्लिट के चयन के माध्यम से, प्रकाश की एक विशिष्ट तरंग दैर्ध्य का उत्पादन करता है, किरण गुजरती है कोलिमेटर 1, एक कोलिमेटेड किरण बन जाता है, और फिर ध्रुवीकरणकर्ता से गुजरता है जो कोण को घुमा सकता है, एक ध्रुवीकृत प्रकाश बन जाता है, और कोलिमेटर 2 इकट्ठा होने के बाद ध्रुवीकृत प्रकाश को स्पेक्ट्रोस्कोप द्वारा 2 किरणों में विभाजित किया जाता है।एक प्रकाश किरण को संदर्भ डिटेक्टर में प्रतिबिंबित किया जाता है, जहां एकत्रित प्रकाश किरण को प्रकाश स्रोत के उतार-चढ़ाव के कारण ऊर्जा बहाव को सही करने के लिए एक संदर्भ के रूप में उपयोग किया जाता है, और एक अन्य प्रकाश किरण नमूने से गुजरती है, जिसे कोलाइमर 3 और कोलाइमर द्वारा नया आकार दिया जाता है। 4, और परीक्षण के सबसे दाएँ छोर पर डिटेक्टर में प्रवेश करता है।वास्तविक परीक्षण में, परीक्षण किए गए नमूने को डालने और निकालने से दो ऊर्जा मान प्राप्त होते हैं, और ऊर्जा की तुलना करके नमूने का संप्रेषण प्राप्त किया जा सकता है।
एलिप्सोमीटर का सिद्धांत उपरोक्त स्पेक्ट्रोफोटोमीटर के सिद्धांत के समान है, सिवाय इसके कि एक घूर्णन 1/4 तरंग प्लेट को बीम भेजने वाले चैनल और प्राप्त करने वाले चैनल में क्षतिपूर्ति तत्व के रूप में जोड़ा जाता है, और प्राप्त चैनल में एक ध्रुवीकरणकर्ता भी जोड़ा जाता है। , ताकि नमूने की ध्रुवीकरण विशेषताओं का अधिक लचीले ढंग से विश्लेषण किया जा सके।कुछ मामलों में, एलिप्सोमीटर सीधे एक विस्तृत स्पेक्ट्रम प्रकाश स्रोत का उपयोग करेगा, और घटक के प्रदर्शन परीक्षण को प्राप्त करने के लिए, एक रैखिक सरणी डिटेक्टर के साथ संयुक्त, प्राप्त अंत में एक स्लिट और स्प्लिटर स्पेक्ट्रोमीटर को अपनाएगा।
3. संप्रेषण का परीक्षण

संप्रेषण परीक्षण में, प्रकाश किरण प्राप्त करने वाले डिटेक्टर के प्रतिबिंब से बचने के लिए, एकीकृत क्षेत्र को अक्सर रिसीवर के रूप में उपयोग किया जाता है, सिद्धांत इस प्रकार दिखाया गया है:

जैसा कि उपरोक्त चित्र से देखा जा सकता है, एकीकृत क्षेत्र आंतरिक दीवार पर सफेद विसरित प्रतिबिंब कोटिंग सामग्री के साथ लेपित एक गुहा क्षेत्र है, और गेंद की दीवार पर एक खिड़की का छेद है, जिसका उपयोग आपतित प्रकाश के प्रकाश छेद के रूप में किया जाता है और प्रकाश डिटेक्टर का प्राप्तकर्ता छेद।इस तरह, एकीकृत क्षेत्र में प्रवेश करने वाला प्रकाश आंतरिक दीवार कोटिंग के माध्यम से कई बार प्रतिबिंबित होता है, जिससे आंतरिक दीवार पर एक समान रोशनी बनती है, और डिटेक्टर द्वारा प्राप्त की जाती है।
उदाहरण के तौर पर, एक ऑप्टिकल प्लेट के संप्रेषण का परीक्षण करने के लिए उपयोग किए जाने वाले उपकरण की संरचना नीचे दिखाई गई है

उपरोक्त चित्र में, परीक्षण किया गया नमूना एक समायोजन तालिका पर रखा गया है जिसे x और y दिशाओं में स्थानांतरित किया जा सकता है।समायोजन तालिका के कंप्यूटर नियंत्रण द्वारा किसी भी स्थिति में नमूने के संप्रेषण का परीक्षण किया जा सकता है।पूरे फ्लैट ग्लास का संप्रेषण वितरण स्कैनिंग परीक्षण द्वारा भी प्राप्त किया जा सकता है, और परीक्षण का रिज़ॉल्यूशन बीम के स्पॉट आकार पर निर्भर करता है।
4. परावर्तन परीक्षण

ऑप्टिकल फिल्म परावर्तनशीलता को मापने के लिए आमतौर पर दो तरीके होते हैं, एक सापेक्ष माप और दूसरा निरपेक्ष माप।सापेक्ष माप पद्धति के लिए तुलनात्मक परीक्षण के लिए संदर्भ के रूप में उपयोग किए जाने वाले ज्ञात परावर्तन वाले परावर्तक की आवश्यकता होती है।व्यवहार में, संदर्भ दर्पण के प्रतिबिंब को फिल्म परत की उम्र बढ़ने या संदूषण के साथ नियमित रूप से अंशांकित करने की आवश्यकता होती है।इसलिए, इस विधि में संभावित माप त्रुटियाँ हैं।पूर्ण परावर्तन माप की विधि में नमूना रखे बिना परीक्षण उपकरण की परावर्तनशीलता के अंशांकन की आवश्यकता होती है।नीचे दिए गए चित्र में, नमूने की परावर्तनशीलता की पूर्ण माप प्राप्त करने के लिए क्लासिक VW डिवाइस की संरचना दी गई है:

उपरोक्त चित्र में बायाँ चित्र एक V-आकार की संरचना को दर्शाता है जिसमें तीन दर्पण, M1, M2 और M3 शामिल हैं।सबसे पहले, इस मोड में प्रकाश तीव्रता मान का परीक्षण किया जाता है और P1 के रूप में रिकॉर्ड किया जाता है।फिर, सही आकृति में, परीक्षण के तहत नमूना डाला जाता है, और डब्ल्यू-आकार की संरचना बनाने के लिए एम 2 दर्पण को शीर्ष स्थिति में घुमाया जाता है।मापे गए नमूने की पूर्ण परावर्तनशीलता प्राप्त की जा सकती है।इस उपकरण में सुधार भी किया जा सकता है, उदाहरण के लिए, परीक्षण के तहत नमूना एक स्वतंत्र घूर्णन तालिका से भी सुसज्जित है, ताकि परीक्षण के तहत नमूने को एम 2 दर्पण को संबंधित प्रतिबिंब स्थिति में घुमाकर, किसी भी कोण पर घुमाया जा सके, ताकि प्राप्त किया जा सके। बीम आउटपुट, ताकि नमूने की परावर्तनशीलता का कई कोणों पर परीक्षण किया जा सके।
उदाहरण के तौर पर, एक ऑप्टिकल प्लेट की परावर्तनशीलता का परीक्षण करने के लिए उपयोग किए जाने वाले उपकरण की संरचना नीचे दिखाई गई है:

उपरोक्त चित्र में, परीक्षण किया गया नमूना x/y अनुवाद समायोजन तालिका पर रखा गया है, और समायोजन तालिका के कंप्यूटर नियंत्रण के माध्यम से नमूने की परावर्तनशीलता का किसी भी स्थिति में परीक्षण किया जा सकता है।स्कैनिंग परीक्षण के माध्यम से, पूरे फ्लैट ग्लास का परावर्तन वितरण मानचित्र भी प्राप्त किया जा सकता है।

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